본문으로 건너뛰기

금속 전극 분자 접합 — Au(111)/분자/Au(111)

지금까지의 튜토리얼은 1D carbon chain 하나로 전극과 산란 영역을 모두 만들었다. 그러나 NEGF 방법론이 처음부터 겨냥한 표준 문제는 분자를 벌크(무한) 금속 전극 두 개 사이에 끼운 접합이다. 이 장에서는 문헌에서 가장 오래 검증된 계 — Au(111) 전극 사이의 benzenedithiol(BDT) — 를 예로, 3D bulk 전극 시스템의 설계·구조 준비·k-샘플링이 1D chain과 어디서 갈라지는지 정리한다. 방법론의 뼈대는 그대로다. 산란 영역(contact)은 분자만이 아니라 전극의 일부까지 포함해야 하고, 그 안에서 스크리닝이 완결될 만큼 충분히 커야 하며, 반무한 전극의 효과는 전극 벌크 Green 함수에서 재귀적으로 구성한 self-energy로 들어온다(surface Green function 재귀는 López Sancho et al. 1984). finite bias에서는 두 전극이 정전 퍼텐셜의 경계조건을 제공하고 그 사이 전위 프로파일은 SCF가 결정한다 — 이 구조는 챕터 06의 C19N device와 완전히 같다.

학습 목표

  • 3D bulk 전극 접합이 1D chain 계와 다른 네 가지 축(전극 차원, transverse 주기성, 스크리닝, 구조 자유도)을 설명할 수 있다.
  • Au(111) 전극 principal layer와 산란 영역(분자 + 전극 수 층)을 설계하고, 스크리닝 완결 여부를 판정할 수 있다.
  • bulk 격자 확정 → 표면 slab + 분자 relax → device 조립의 구조 준비 3단계를 수행할 수 있다.
  • 전극·device SCF·TBtrans 각각의 k-샘플링을 올바르게 설정할 수 있다 — 특히 TBtrans transverse k 블록의 위치 규칙.
  • BDT 접합의 T(E)T(E)를 off-resonant tunneling 그림으로 해석할 수 있다.

1D chain과 무엇이 다른가

1D carbon chain (챕터 05–09)Au(111) 분자 접합
전극 차원1D — xx, yy는 vacuum3D bulk — xx, yy도 주기적
transverse 주기성없음 (Γ\Gamma 한 점으로 충분)있음 — k\mathbf{k}_\parallel 샘플링 필수, T(E)T(E)는 k-평균
스크리닝1D라 감쇠가 느리다 — 완충 구간을 길게금속이라 짧다(수 Å). 대신 계면 전하 이동이 만드는 계면 dipole이 있어 전극 수 층은 반드시 산란 영역에 포함
구조 자유도결합 길이 정도anchoring site(hollow/bridge/top), 분자 기울기, 흡착 거리 — 전도도가 여기에 민감

시스템 설계

금속 전극 분자 접합 모식도

그림 1. Au(111) 전극 사이에 thiol(S) anchoring으로 결합한 benzenedithiol 접합의 모식도 — 산란 영역에는 분자와 함께 스크리닝이 완결될 만큼의 전극 층이 포함되어야 한다. (개념도)

전극 — Au(111) principal layer

전극이 만족해야 하는 조건은 챕터 05의 세 조건 그대로다. transport 방향은 [111]이고, 표면 cell은 분자 하나와 주기 이미지 사이 간격을 확보하는 3×3(층당 9원자)이 문헌 표준이다. 3×3 cell에서 분자 간 거리는 약 8.8 Å로, BDT 정도의 분자는 주기 이미지 간 상호작용이 작다는 것이 문헌에서 확인된 설정이다.

층수는 두 조건을 함께 만족해야 한다.

  1. ABC 적층 주기 보존 — fcc [111] 방향의 적층은 ABCABC… 이므로, 주기 cell의 층수는 3의 배수여야 반복했을 때 적층 결함이 생기지 않는다.
  2. principal layer 조건 — 챕터 05 조건 2(인접 cell 너머 hopping 부재)를 orbital 도달거리로 판정한다. Au DZP orbital의 도달거리를 감안하면 3층(두께 약 7 Å)은 얇을 수 있어, 6층(약 14 Å)이 안전한 선택이다. 초기 문헌 계산(Stokbro et al. 2003)은 짧은 기저로 3층을 썼다 — 자신의 basis에서 stdout의 orbital cutoff 반지름을 직접 확인하고 결정한다(챕터 05 연습문제 2와 같은 절차).

분자와 anchoring — benzenedithiol

BDT(HSC6H4SH\mathrm{HS{-}C_6H_4{-}SH})는 단분자 전도도 측정의 첫 세대 실험(Reed et al. 1997)과 TranSIESTA 초기 검증 계산(Stokbro et al. 2003)이 모두 다룬 표준계다. thiol 수소가 해리된 thiolate S가 Au 표면에 결합하며, Au(111)에서는 hollow site(3개 Au 원자 위 중심)가 선호되는 것으로 보고되어 있다. anchoring site(hollow/bridge/top)와 분자 기울기에 따라 S–Au 결합 세기와 전도도가 달라지므로, 1D chain에는 없던 구조 자유도가 계산 설계의 일부가 된다. 어느 site를 채택했는지는 결과 보고에 항상 명시한다.

산란 영역 — 분자 + 양쪽 Au 3~4층

device의 산란 영역은 분자만으로 끝나지 않는다. S–Au 계면의 전하 이동과 dipole이 만든 정전 교란이 device 안에서 감쇠를 끝내야 전극 self-energy와 매끄럽게 만난다. 금속의 스크리닝은 짧아서 계면에서 Au 3~4층이면 대체로 충분하지만, 이것은 가정이 아니라 판정 대상이다 — 경계 층의 planar-averaged potential과 층별 PDOS가 bulk 전극 값과 일치하는지 확인한다. 판정 기준과 길이 시리즈 절차는 scattering region 수렴의 기준 1·2를 그대로 적용한다.

구조 준비 절차

구조는 세 단계로 확정한다. 챕터 03에서 정리한 VASP → SIESTA 교차 검증 흐름(격자·좌표 이관, 밴드 개형 대조, 상대 에너지 순서 대조 — 절대 에너지 비교 금지)이 여기서도 표준이다.

  1. bulk Au 격자상수 확정 — fcc Au의 격자상수를 VASP과 SIESTA(PBE/DZP)로 각각 수렴시키고 서로 일치하는지 확인한다. 이후 모든 구조(전극 cell, slab, device)가 이 값 위에 서므로, scattering region 수렴의 기준 3(전극 격자는 bulk-only relax로 고정)이 출발점이다.
  2. 표면 slab + 분자 relax — 확정 격자로 Au(111) slab(46층, 표면 방향 vacuum)을 만들고 BDT를 얹어 relax한다. 이때 전극 안쪽 층은 bulk 위치에 고정하고 분자와 계면 Au(맨 위 12층)만 움직인다. slab 아래쪽까지 풀어 버리면 device 조립 시 전극 복제 영역과 원자 배열이 어긋난다. SIESTA에서는 Geometry.Constraints로, VASP에서는 POSCAR의 Selective dynamics로 같은 구속을 건다.
  3. device 조립 — relax된 계면 구조(분자 + 계면 Au 층)를 가운데 두고, 양 끝에 전극 cell을 그대로 복제해 붙인다. 전극 복제 영역은 전극 cell과 원자 종류·간격·배열이 완전히 동일해야 한다(챕터 06의 경계 조건 그대로). transport 방향(zz)은 왼쪽 전극에서 오른쪽 전극까지 원자가 이어지므로 vacuum이 없다 — transverse 방향도 3×3 표면 주기라 vacuum이 없다. 1D 예제와 달리 device 셀 어디에도 vacuum이 들어가지 않는다.
slab relax — 전극 안쪽 층 고정 (SIESTA 예)
# slab 원자 순서: 아래(전극 쪽) -> 위(분자 쪽)로 정렬해 두면 범위 지정이 단순하다
%block Geometry.Constraints
atom [1 -- 27] # 아래쪽 Au 3개 층(3x3x3 = 27원자)을 bulk 위치에 고정
%endblock Geometry.Constraints

k-샘플링 — 1D와 결정적으로 갈라지는 지점

1D 예제에서는 transverse가 vacuum이라 k-점이 Γ\Gamma 하나였다. 3D bulk 전극에서는 transverse가 실제 주기 방향이므로 k\mathbf{k}_\parallel 샘플링이 계산의 모든 단계에 들어온다.

계산k-grid (예)근거
bulk Au / 전극8×8×328\times8\times32transverse 주기 + transport 방향 금속 밴드 적분. transverse는 device 이상으로
slab + 분자 relax4×4×14\times4\times1표면 slab — vacuum 방향은 1
device TranSIESTA SCF4×4×14\times4\times1transport 방향 k는 1 — 열린 경계는 전극 self-energy가 담당 (챕터 06과 동일 논리)
TBtrans T(E)T(E)10×10×110\times10\times1T(E)T(E)k\mathbf{k}_\parallel 평균이 결과의 일부 — SCF보다 조밀하게, 수렴 확인 필수
TBT.kgrid_Monkhorst_Pack은 input.fdf 맨 마지막에

TBtrans의 transverse k를 조밀하게 하려면 %block TBT.kgrid_Monkhorst_Packinput.fdf의 맨 마지막에 두어야 한다. 이 블록을 TBtrans.fdf 안에 넣으면 transport 방향 k가 1로 자동 축소되면서 의도한 grid가 적용되지 않는다(챕터 07 함정 2). 1D 예제에서는 k-grid가 Γ\Gamma 하나라 이 규칙이 드러나지 않았지만, bulk 전극 시스템에서는 이 위치 규칙을 지키지 않으면 k 수렴이 경고 없이 깨진다 — 1D와 결정적으로 다른 지점이다.

0bias/input.fdf 맨 마지막
%block TBT.kgrid_Monkhorst_Pack
10 0 0 0.0
0 10 0 0.0
0 0 1 0.0
%endblock TBT.kgrid_Monkhorst_Pack

fdf 골격

좌표 전체를 싣는 대신 구성 요령 중심의 골격만 보인다. 격자 수치는 bulk relax에서 확정한 abulka_{\mathrm{bulk}}로부터 유도한다 — 표면 격자상수 asurf=abulk/2a_{\mathrm{surf}} = a_{\mathrm{bulk}}/\sqrt{2}, 층간격 d111=abulk/3d_{111} = a_{\mathrm{bulk}}/\sqrt{3} (아래 수치는 abulk=4.16a_{\mathrm{bulk}} = 4.16 Å 기준 예시).

01_electrode_au/input.fdf (골격)
SystemName Au(111) electrode, 3x3 surface cell x 6 layers
SystemLabel Electrode

NumberOfAtoms 54 # 6층 x 9원자, ABC 적층 2주기
NumberOfSpecies 1
%block ChemicalSpeciesLabel
1 79 Au
%endblock ChemicalSpeciesLabel

LatticeConstant 1.0 Ang
%block LatticeVectors
8.825 0.000 0.000 # 3 x a_surf
-4.412 7.643 0.000 # 육각 표면 격자 (120도)
0.000 0.000 14.412 # 6층 x d_111 — transport 방향, vacuum 없음
%endblock LatticeVectors

# 좌표: bulk 격자에서 ABC 적층으로 생성. 전극은 relax하지 않는다 (이상 결정).

PAO.BasisSize DZP
XC.Functional GGA
XC.Authors PBE
MeshCutoff 300. Ry

%block kgrid_Monkhorst_Pack
8 0 0 0.0
0 8 0 0.0
0 0 32 0.0
%endblock kgrid_Monkhorst_Pack

SCF.DM.Tolerance 1.0d-8
TS.HS.Save T # Electrode.TSHS 저장

device의 TS.fdf챕터 06의 것과 블록 구조가 동일하다. 달라지는 것은 전극 TSHS 경로와 electrode-position이 가리키는 원자 범위(전극 복제 영역 54원자씩)뿐이다.

0bias/TS.fdf (전극 정의 부분 — 챕터 06과 동일 구조)
%block TS.Elecs
Left
Right
%endblock TS.Elecs

%block TS.Elec.Left
HS ../01_electrode_au/Electrode.TSHS
chemical-potential Left
semi-inf-direction -a3
electrode-position 1 # device 원자 1부터 전극 복제 영역
%endblock TS.Elec.Left

%block TS.Elec.Right
HS ../01_electrode_au/Electrode.TSHS
chemical-potential Right
semi-inf-direction +a3
electrode-position end -1 # 마지막 원자에서 끝나는 전극 복제 영역
%endblock TS.Elec.Right

화학 퍼텐셜·contour 블록, DM.UseSaveDM/TS.HS.Save/Write.DM 저장 플래그, bias chain 규칙(챕터 09)도 전부 1D 예제와 같다. basis·functional·MeshCutoff가 전극과 device에서 동일해야 한다는 조건(챕터 05)도 그대로다.

기대 결과 — off-resonant tunneling

BDT 접합의 T(E)T(E)는 1D chain의 정수 plateau와 전혀 다른 모양이다.

  • EFE_F는 분자의 HOMO–LUMO gap 안에 놓인다. gap 안에서는 공명 없이 tunneling으로만 전도되므로 T(EF)1T(E_F) \ll 1이다 — plateau가 아니라 완만한 골짜기.
  • EFE_F 아래에는 HOMO(및 S–Au 결합에서 유래한 상태), 위에는 LUMO 공명 peak가 나타난다. BDT는 HOMO 쪽 공명이 EFE_F에 더 가까운 HOMO 전도 계로 알려져 있다.
  • semi-local functional(PBE)의 T(EF)T(E_F)는 실험 전도도보다 과대평가되는 것이 문헌에서 반복 확인된 경향이며, 그 원인(준위 정렬 오차)과 보정은 챕터 11의 주제다. 평판 금속 전극이므로 1D chain에서는 정의되지 않던 image-charge 보정(Σ2\Sigma^2)까지 적용 가능한 계라는 점도 챕터 11과 연결된다.
  • eigenchannel 분해(챕터 10)로 지배 채널의 ψ2|\psi|^2가 S–Au anchoring 결합을 통과하는지 확인한다. anchoring site를 바꾸면 채널 파동함수와 τi\tau_i가 함께 변하므로, 구조 자유도가 전도도에 미치는 영향을 채널 수준에서 진단할 수 있다.

연습문제

  1. 전극 층수를 3층과 6층으로 각각 잡았을 때, cell nn의 원자와 cell n+2n+2의 원자 사이 최소 거리를 d111d_{111}로 계산하고, Au DZP orbital cutoff(전극 계산 stdout에서 확인)와 비교해 principal layer 조건을 판정하라 — 챕터 05 연습문제 1의 Au 판이다.
  2. 산란 영역의 Au를 계면당 2층/3층/4층으로 늘린 시리즈를 설계하라(전극 cell 단위 유지). 어떤 산출물(경계 층 potential, PDOS, T(E)T(E) overlay)로 스크리닝 완결을 판정할지 계획을 세워 보라.
  3. TBtrans transverse k를 2×22\times2, 4×44\times4, 10×1010\times10으로 바꾸며 T(E)T(E)를 겹쳐 그리는 수렴 테스트를 설계하라. TBT.kgrid_Monkhorst_Pack 블록을 어디에 두어야 하는지, 잘못 두면 어떤 증상으로 드러나는지 설명하라.

참고문헌

  • M. Brandbyge, J.-L. Mozos, P. Ordejón, J. Taylor, and K. Stokbro, "Density-functional method for nonequilibrium electron transport", Phys. Rev. B 65, 165401 (2002). DOI 10.1103/PhysRevB.65.165401
  • K. Stokbro, J. Taylor, M. Brandbyge, J.-L. Mozos, and P. Ordejón, "Theoretical study of the nonlinear conductance of di-thiol benzene coupled to Au(111) surfaces via thiol and thiolate bonds", Comput. Mater. Sci. 27, 151 (2003). DOI 10.1016/S0927-0256(02)00439-1
  • M. A. Reed, C. Zhou, C. J. Muller, T. P. Burgin, and J. M. Tour, "Conductance of a Molecular Junction", Science 278, 252 (1997). DOI 10.1126/science.278.5336.252
  • M. P. López Sancho, J. M. López Sancho, and J. Rubio, "Highly convergent schemes for the calculation of bulk and surface Green functions", J. Phys. F: Met. Phys. 15, 851 (1985); 재귀 알고리즘의 원 논문은 J. Phys. F 14, 1205 (1984). DOI 10.1088/0305-4608/14/5/016